QUANTAXEDS为SEM
XFlash应用
®7-新EDS检测器系列
右角改善分析
Fast.精确性可靠
千千万万
Cps系统
实分析吞吐量达1,000,000cps
实现不匹配分析速度
大于2200
元素线程
使用最综合原子数据库包括数最复杂数据k、L、M和N线
大于1.1
sr
最大固态X射线采集
以最优几何最高效收集生成X射线
SEM、FIB-SEM和EMPA分能分光度
- 万博在线客服布鲁克最新一代QUANTAXETS特征®7检测器序列提供最大固态角X射线采集器(也称收集角)最高吞吐量.
- XFlash®7继续设置标准性能和功能射电显微镜、聚焦IonBem和EPMA微解解析
- XFlash®7检测器家庭还提供最优化解决方案,供EDS分析TEM和SEM电子透明标本以及独特XFlash®FlatQUAD检测器回答你有关挑战样本的问题
- 滑行技术 大采集角设计 和最新一代脉冲处理
- 提高系统恢复时间现场SDD模块交换
- 高光谱性能获取最佳能量解析
- 提高结果精度由精密量化算法和不标准标准方法的独特组合
提高元素分析效率
- 个人优化EDS系统快速获取精确结果保证不匹配速度和精度
- 在所有不限制数据大小的设置中缩短测量时间并实现最大吞吐量、辅助映射和量化
- 分析挑战样本,多亏最高效生成X射线几何采集
- 精确可靠量化结果得益,优化几何最小化背景并避免吸收
- 检测小量并改进检测限值、低背景并减少吸收
- 面向所有人-无缝整合EDS、WDS、EBSD和Micro-XRF综合ESPRITSEM、FIB-SEM和EPMA分析平台
