D8升级
D8adance: XRD、PDF和SAXS单求解
D8辅助-未来防X射线分片解析
D8adivity基础为独有D8diffracity计家庭平台,设计完全面向所有X射线粉分片应用包括:
- 传统X光粉分片
- 平分配函数分析
- 小型广角X射线散射
由于其超适配性,D8Advance有能力测量单件工具上所有样本类型,从液态到松散粉末,从薄膜到固块
不论你是新手或专家用户,配置变换快速易易防愚万博在线客服Bruker独有DAVINCI.DESION:无工具对控件配置进行非对齐修改,并配有自动实时分量识别验证
万博在线客服更多-只有Bruker基于NIST标准参考素材sRM1976提供匹配保证市场上没有其他粉色分解计超出D8adance峰值位置、强度和分辨率精度
市场美术馆
密钥特征
TWIN/TWIN光学
专利TWIN/TWIN光学路由设计大大简化D8ADVANCS使用方式,允许多种应用和样本类型以方便用户为思想系统特征自动机动交换四大波束间无人工用户干预系统可切换以Bragg-Brentano为焦点粉状图和不形状样本并行波束几何法、涂层图和薄膜图完全适合环境或非环境条件下所有样本类型,包括粉末、散装物、纤维、薄膜和薄膜(不定式、多晶体和上下文式)。
动态Bem优化TM
万博在线客服Bruker独有DBO特征为X射线分片数据质量定出新的重要基准机动分片自动同步式反散射屏和可变现场主动检测窗口提供无与伦比的数据质量,具体指低角2DBO得到LYNXEYE检测子组所有成员支持:SSD160-2、LYNXEYE-2和LYNXEXE-T
液晶XE-T
LynxeyeXE-T是LynxEYE中检测器群中龙头LYNXYEXE-T是市场上唯一获取0D数据、1D数据2D数据分布式检测器套接所有波长(从Cr到Ag),计算速率最高并有最佳角分辨率,检测器在所有X射线分片应用中最理想
LYNXYEXE-T超能解析优于380eV,使它在荧光过滤方面成为市场性能最高检测器系统LYNXYE XE-T检测器Fi fiorece也不再需要电密度二次单色器
万博在线客服LYNXYEXE-T由Brukers独有检测保证覆盖:交付时没有缺陷通道保证
特征图片库
EIGER2R检测器
工具与数据质量
一分数计-所有应用
火药破解
X射线粉分片技术是材料定性的最重要工具之一。嵌入火药模式的大部分信息直接取自当前阶段原子排列D8adance和DIFFRAC.SULITE软件允许支持简单执行常用XRPD方法
- 晶状和不定相位确定标本纯度
- 晶状和多相位混合相位量化分析
- 微结构分析
- 批量剩余应力来自热处理或人工组件编程
- 纹理分析
- 索引化、ab-itio晶体结构测定和晶体结构精细
配对分布函数分析
配对分布函数分析是一种分析技术,它提供基于Bragg和扩散散射(“全散射”)的无序材料结构信息布拉格峰值提供材料平均晶体结构信息长距离排序、散射允许描述局部结构短距离顺序)
D8adance软件和TOPAS软件代表市场中表现最佳PDF分析解决方案,分析速度、数据质量和结果分析
- 相位识别
- 结构确定和精细
- 纳米粒子大小和形状
薄膜和编码
薄膜和涂层分析以XRPD相同原理为基础,但有进一步的波束调节和角控件典型例子包括但不限于相位识别、晶素质量、剩余应力、纹理分析、厚度测定和构件比数分析薄膜和涂层分析侧重于层状材料的属性,Nm至M厚度不等,范围从不定和多晶状涂层到子片生长D8advance软件和DIFFRAC.SULITE软件能对薄膜进行高质量分析,包括:
- 牧场事件反射
- X-Ray反射法
- 高分辨率X射线分片
- 互换空间映射
程序图片库
D8升级规范
特征特征 |
规范化 |
益惠 |
TRIO和TWIN光学 |
软件按键切换 机电化差分法(Bragg-Brentano) 高强度Ka1.2并行光束 高分辨率Ka1并行波束 专利数: 10429326,6665372,7983389 |
完全自动电动交换达6个不同波束间不需人工用户干预 完全适合所有样本类型,包括粉末、散装材料、纤维、薄膜和薄膜(不定式、多晶体和上下文式) |
动态波束优化 |
动态同步数 : 机动分片 机动反散射屏 可变活动检测器窗口 2角范围: <1至>150 |
数据几乎免空气、仪表和样本支持散射 显著提高下限检测,使小晶素和无定型相位量化 低2Q角无阻性能便于精确调查粘土、药材、热尔特物、多孔框架素 |
液晶XE-T |
能量解析度: < 380eV@8KeV 检测模式:0D1D2D 波长:Cr、Co、Cu、Mo和Ag 专利号:EP1647840、EP1510811、US2020003275 |
不需要KZ滤波器和二级单色器 百分百过滤Fe-fluescense与Cu辐射 450倍比传统检测器系统快 BRAGG2D:收集二维数据分流主线波束 唯一检测器保修:交付时无缺陷通道 |
EIGER2R |
最新代多模式OnD/1D/2D检测器基础是Decris Ltd开发混合光子计数技术 |
无缝整合0D、1D和2D分步检测连续高级扫描模式 运算学免对齐检测器旋转优化QQ或2Q角覆盖 全景免工具波束光学 连续变量检测器定位平衡角覆盖度和分辨率 |
TWIST.TUBE |
易快捷免定点交换机线和点焦点应用 |
不断电电缆或水管或卸载管 完全自动检测和配置聚焦方向 |
样本变换器 |
FLIPSTICK9样本 90样本 |
反射传输几何操作 |
8Goni计 |
双循环高射线计带独立继波电机和光学编码器 |
万博在线客服无限精度和精度由Bruker独有对齐保证所控制 完全免费维护机制/配有终生润滑 |
非环境性 |
温度:由~85K调高至~2500K 压强:10-4兆瓦乘以10巴 湿度:5%至95%RH |
环境和非环境条件调查 易易交换阶段DIFFRAC.DAVINCI |
Plan. Measure.Analyze with Diffrac.
DIFFRAC.SUITETM提供多种软件模块,方便X射线粉分片数据采集和评价微软.NET技术基础DIFFRAC.SULITE提供现代软件技术所有优势促进稳定、最易使用和联网
可完全定制用户界面特征插件框架,提供公共外观、感知和操作所有测量和评价软件模块都可单个应用操作或合并DIFFRAC.SUITE插件框架无限制联网允许访问并控制客户网络内数列D2PHASER、D8adVance、D8DISCOVER和D8EDEAVOR硬化计
测量软件:
维扎尔德方法规划
指令员方法执行和直接测量
manbet手机网页ToOLS服务接口
Powder防故障软件
库安特量化阶段分析
EVA系统阶段识别量化阶段分析
托巴斯剖面分析、量化分析、结构分析
网络研讨会
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