尺寸XR SPM | Bruker万博在线客服 - manbetx最新版本,manbet手机网页,manbet体育下载

强调

尺寸XR

万博在线客服布鲁克的尺寸XR扫描探针显微镜(SPM)系统结合了数十年的研究和技术创新。与常规原子缺陷解决，和一系列独特的技术，包括PeakForce tap^®， DataCube模式，SECM和AFM-nDMA，他们提供最大的性能和能力。Dimension XR系列SPMs将这些技术打包成解决方案，以解决纳米机械、纳米电气和电化学应用问题。在空气、流体、电气或化学反应环境中，对材料和活性纳米级系统的量化从来没有这么容易过。

高光谱

纳米电学表征

包括用于功能材料、半导体和能源研究的最完整的电子AFM技术阵列。

亚100纳米

电化学成像

为定量分析与电池、燃料电池和腐蚀相关的局部电化学活性提供最高分辨率的总解决方案。

开箱即用

纳米力学分析

提供完全定量，交钥匙套件，用于相关结构和材料的纳米力学性质。

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特征

以最高性能实现首个也是唯一一个AFM功能

高级研究的优化配置

XR纳米力学

XR纳米力学提供了一系列模式，以全面检测最小的结构，空间分辨率低至聚合物链的亚分子单元。研究人员使用我们专有的AFM-nDMA™模式将纳米力学数据与大块DMA和纳米印迹方法关联起来。从软粘水凝胶和复合材料到硬金属和陶瓷，实现可量化的纳米尺度表征。

XR Nanoelectrical

Dimension XR Nanoelectrical配置涵盖了单个系统中最广泛的电子AFM技术阵列。研究人员用专有的DataCube模式捕捉与机械性能测量相关的每个像素的电子光谱。该系统通过一次测量提供以前无法获得的信息。

XR纳米电化学

纳米电学结构使基于AFM的扫描电化学显微镜（AFM-SECM）和电化学AFM（EC-AFM）具有强大的性能。AFM操作员以<100 nm的空间分辨率获取电化学信息，并在单个系统中同时进行电化学、电学和机械制图。

所有模式、所有环境的最高分辨率

从液体中的点缺陷和刚度映射到空气中的原子分辨率和电导率映射，Dimension XR系统在所有测量中提供最高的分辨率。他们利用了布鲁克的所有权万博在线客服Peakforce Tapp.实现硬物质和软物质性能基准的技术，包括聚合物中的晶体缺陷分辨率和分子缺陷。同样的技术在数百张图像上分辨粗糙玻璃上最小的微凸体方面也发挥着同样重要的作用。该系统将PeakForce攻丝与极端稳定，独特的探头技术合并，Bruker在Tip扫描创新中的几十年经验。万博在线客服结果是最高分辨率成像，一致，完全独立于样本大小，重量或中等 - 以及任何应用。

革命性的原子力显微镜

四组分（COC，PE，LLDPE，弹性体）聚合物（左）高分辨率储存模量图。在各个点（右）收集的储存模量谱。

AFM首次可以在纳米尺度上提供完整和定量的聚合物粘弹性分析，探测材料在线性范围内流变相关频率。专有的双通道检测、相位漂移校正和参考频率跟踪使得在流变相关的0.1 Hz至20 kHz范围内进行小规模应变测量成为可能，用于存储模量、损耗模量和损耗正切的纳米尺度测量，这些测量直接与批量DMA联系在一起。

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专有的Datacube模式

这些模式利用FASTForce体积在每个像素中执行力距离频谱，具有用户定义的停留时间。使用高数据捕获速率，在停留时间期间执行多个电测量，导致每个像素处的电气和机械光谱。Datacube模式在单个实验中提供完整的特征，这在商业AFM中是闻所未闻的。

Dimension XR的DataCube模式在每个像素处提供多维纳米级信息，在单个测量中同时捕获电气和机械特性。

DCUBE-PFM测量清楚地显示了BiFeO3薄膜上每个离散像素在不同电位水平上的畴翻转。

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独家PeakForce SECM

(A)布万博在线客服鲁克独家预安装的PeakForce SECM探头提供了简单和安全的处理，以及在数小时的成像和多次清洗周期中极其稳定的性能。(B)探针的SEM图像;(C) 10 mM [Ru(NH3)6]3+剖面的COMSOL模拟;(D)以20 mV/s的扫描速率从50次连续扫描中选择第1、25和50个CVs;(E) 2小时安培测试，在-0.1 V对AgQRE，插入放大从70到120分钟;(F)模拟(虚线)和实验(实线)逼近曲线。C和E图像由C. Xiang和Y. Chen提供。

该模式的空间分辨率小于100nm，可重新定义液体中电和化学过程的纳米级可视化。PeakForce SECM与传统方法相比，分辨率显著提高了几个数量级。这使得能源存储系统、腐蚀科学和生物传感器的全新研究成为可能，为对单个纳米粒子、纳米相和纳米孔的新颖测量打开了大门。只是，PeakForce SECM提供了纳米尺度横向分辨率的地形、电化学、电和机械地图的同时捕获。

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应用

AFM模式

使用AFM模式扩展您的应用程序

通过可用的无与伦比的成像模式，Bruker拥有AFM技术，每次调查。万博在线客服

建立在核心成像模式的基础上接触模式和敲击模式Bruker提供AFM模式，允许用户探测样品的电、磁或材料特性。Bruker创新的新PeakForce攻万博在线客服丝技术代表了一种新的核心成像模式，该模式已被整合到多种模式中，同时提供地形、电气和机械特性数据。

了解有关AFM模式的更多信息

维度XR数据库

在精细的分子层上显示出最高的分辨率，这里的TappingMode图像揭示了甲醇在HOPG上自组装的分子结构。三幅图像显示了间距为5nm的0.5nm台阶和人字形图案，以及0.5nm的分子间距（小图像比例尺为3nm）。行的长度尺度表明有序的甲醇分子以不同的角度倾斜。250nm扫描的垂直刻度为1nm。Bede Pittenger博士获得的图像。

铝硅酸盐玻璃的Peakforce攻丝图像在空气中的工业样品上展示了最高分辨率。保持尖端清晰度是关键。随后扫描的盲尖重建显示尖端半径约为1nm，表示在该具有挑战性的样本上的尖端磨损可忽略不计。全图像扫描尺寸为5um，5000x5000像素。Peailforce设定值600pn。FastScan B探头。Shuiqing Hu，Ph.D.收购的图像