自动x光片检验

万博在线客服Bruker为薄膜计量提供世界上最先进和无损的x射线技术解决方案。我们的表征解决方案涵盖了逻辑和内存的整个处理范围。万博在线客服Bruker拥有专门的系统,用于识别基板缺陷,执行epi薄膜和高k介质的前线控制,以及用于分析金属薄膜和晶圆片级封装凸点的专用仪器。这些系统还通常执行其他半导体计量应用的硬盘驱动器材料,氮化镓上的硅功率晶体管,和PZT薄膜组成和相位监测。

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JVX7300F-W

先进晶圆封装中凸模和凸模下金属的工艺控制

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JVX7300LSI

厂内研发和生产过程监控

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JVX7300RF-T

用于测量金属薄膜的多通道计量学

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JVX7300HR

HRXRD对锗的外延层的质量控制

JVX7300 FC image1的工具

JVX7300F-C

全反射X射线荧光TXRF