复合半导体的x射线计量

万博在线客服Bruker提供x射线计量工具，用于对外延层薄膜的质量控制监测，以及对各种半导体薄膜和晶片的详细研发分析。

万博在线客服Bruker的JV-QC3和JV-QCVelox具有高强度源和高动态范围探测器，用于快速的吞吐量和可重复的测量。它们能够快速反馈脱毛膜的质量和组成，特别是对于氮化镓和III-V材料。此反馈可以本地或自动地传递到工厂主机软件。

JV-DX x射线计量系统提供用于材料研究、工艺开发和质量控制的薄膜分析。作为一个先进的，通用的x射线衍射仪，它结合了所有的标准技术，加上行业领先的分析软件。它的功能和特点的结合，使JV-DX一个理想的，多用途薄膜材料研究工具，为您目前和未来的计量需求。