自动化的AFM横幅


复合半导体的x射线计量

万博在线客服Bruker提供x射线计量工具,用于对外延层薄膜的质量控制监测,以及对各种半导体薄膜和晶片的详细研发分析。

万博在线客服Bruker的JV-QC3和JV-QCVelox具有高强度源和高动态范围探测器,用于快速的吞吐量和可重复的测量。它们能够快速反馈脱毛膜的质量和组成,特别是对于氮化镓和III-V材料。此反馈可以本地或自动地传递到工厂主机软件。

JV-DX x射线计量系统提供用于材料研究、工艺开发和质量控制的薄膜分析。作为一个先进的,通用的x射线衍射仪,它结合了所有的标准技术,加上行业领先的分析软件。它的功能和特点的结合,使JV-DX一个理想的,多用途薄膜材料研究工具,为您目前和未来的计量需求。

李豪治半导体公司证明v2
JV QC3乘积图像v1

JV-QC3

HRXRD用于氮化镓、LED和III-V材料脱色层的质量控制

合资QCVelox 3

JV-QCVelox

为GaN基LED的外延层的质量控制和III-V材料的高性能HRXRD

JVDX工具图像v2

JV-DX

x射线测量系统用于分析薄膜材料的研究、工艺开发和质量控制

RADS软件Icon v1

拉德软件

能够快速准确地进行XRD测量分析的软件