原子力显微镜

维度XR

纳米机理学、纳米电工学和纳米电化学等极端研究系统

维度XR

万博在线客服Bruker尺寸XR扫描显微镜系统包含数十年研究和技术革新常规原子缺陷解析 和各种特殊技术 包括峰值纹理®DataCube模式、SECM模式和AFM-NDMA模式提供最大性能和能力维度XR类SPM打包技术转包解决纳米机电电应用材料量化和空气、流体、电气或化学反应环境活性纳米系统从来不易实现。

超光谱
nanoelectrical characterization
包括最完全电AFM技术阵列描述功能材料、半导体和能源研究
子100nm
电化学成像
提供最高分辨率和全解法量化分析与电池、燃料电池和腐蚀相关联的局部电化学活动
出箱
纳米机械分析
完全量化统包技术套件关联结构与材料纳米机性
赋能高性能AFM能力

优化高级研究配置

XR纳米机学

XR纳米机能提供各种模式全面检测最小结构,空间分辨率下降至聚合链子分子单元研究者将纳米机数据与批量DMA和纳米识别方法相关联到我们专有AFM-NDMATM模式实现从软粘合水凝胶和复合物延伸至硬金属和陶瓷的可量化纳米定性

XR纳米电

尺寸XR纳米电配置覆盖单系统最广数组电AFM技术研究者捕捉电像素中的每一像素中与自有数据元件模式机械属性测量相关联的电光谱系统从单个测量中提供前不可实现信息

XR纳米化工

纳米电配置使强效AFM电化学显微镜和电化学AFMaFM运算符获取电化学信息 < 100nm空间分辨率并用单系统同时绘制电化学、电气和机械图

最高分辨率面向所有模式,所有环境

从液态和硬度图点缺陷到空气传导图原子解析,维度XR系统在所有测量中提供最高分辨率万博在线客服使用Bruker专有峰值纹理技术实现硬质和软质性能基准,包括晶体缺陷解析和聚合物分子缺陷同一种技术在解决成百上千图像上最小的粗玻璃异差方面发挥着同样重要的作用。万博在线客服系统把峰值触摸与极稳定性、独特探针技术 和Bruker数十年小技巧扫描创新经验相联高分辨率成像一致性完全独立于样本大小、权重或介质-并用于任何应用

革命AFM-NDMA

高分辨率存储模数图四构件聚合物(COC、PE、LLDPE、elastomer)左侧存储单点光谱

AFM首次能提供完整量化对比分析聚合物,即线性系统内Nam尺度检验材料自主双通道检测、相冲修正和参考频率跟踪使0.1赫兹至20千赫兹射程小波测量成为存储模度、损模和损正直接与散装DMA相联的纳米级测量

特权数据立方模式

模式使用FAST工具卷执行每个像素中的强距离频谱,并有用户定义的嵌入时间使用高数据捕获率,多电量测量沉积时间,结果产生电子和机械像素每像素光谱DataCube模式完全描述单项实验 商业AFM

维度XR数据立方模式提供多维纳米级信息
DCUBE-PFM测量清晰显示BiFO3薄膜上每个离散像素在不同潜在层次翻转域

独有峰值SEC

万博在线客服Bruker排他式峰值SECM探针容易安全处理,并极稳定性能超过成像和多清洗周期数小时SEM探针图片COMSOL模拟10m第1次、第25次和第50次CVs从50连续扫描中选择,扫描速率20mV/s2-0.1V对AgQRE测试2小时放大度70-120分钟和(F)模拟(断线)和实验(固线)接近曲线C和E图片礼项和YChenCaltech

空间分辨率小于100纳米时,该模式重新定义峰值单片以量级极大提高传统方法的解决权允许全新研究能源存储系统、腐蚀科学生物传感器,开通个人纳米粒子、纳米相位和纳米粒子新测量门峰值SEC同时捕捉带纳米平面分辨率的地形图、电化学图、电图和机械图

NanoScope 6AFM控制器


纳诺Scope 6控制器以更高速度、低噪声和高性能维度和多模式AFM系统全方位开发用户能力。 最新一代控制器提供前所未有的精度、精度和多功能性,供每一次应用中纳米度表层测量使用。

万博在线客服NanoScope 6独有性能BrukeraFMs

  • 多成像模式操作比竞技系统可能操作多,包括需要复杂控制分析的独特高级AFM模式
  • 收集准确量化数据供纳米电机属性测量并
  • 优化定制扫描参数以满足甚至最严格的研究和行业测量需求
AFM模式

扩展应用AFM模式

万博在线客服布鲁克拥有非调频技术 供每次调查使用

万博在线客服建在核心成像模式骨架上-接触模式和塔普模式-Bruker提供AFM模式,允许用户探查样本电磁或材料属性万博在线客服Bruker新创峰值测试技术代表新核心成像范式,并编成数种模式,并行提供地形、电气和机械特性数据

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