测试度量

3D光谱剖析器

3D非接触表层测量检验技术

快速非联系三维光学剖析

万博在线客服Bruker是行业领先提供3D表面测量和检验解决方案者,提供快速、可靠和易用非接触分析系统,从微镜MEMS到整个引擎块不等样本最优级精度提供研发、制造和质量控制方面研究人员和工程师的行业引导敏感度和稳定性,这是精确三维表层测量所必备的,而应用环境对其他计量系统具有挑战性。

万博在线客服依据十代自有WykoQET白光插图技术与Bruker技术,我们的光学剖析计量系统证明记录支持世界实验室和生产环境前端研发、QA和QC

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底层定点三维光学精度计

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自校整全自动化研发解决方案

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最灵活大样本精度制造解决方案用于快速自动化粗度和表面纹理测量

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轮廓SP

大型计量系统高容量高精度多氯联苯生产控制

里尔马斯

HD9800+

数据存储行业大格式表层剖析系统

里尔马斯

应用

地表依赖应用专用解析法

精度工程

将精密工程部件表面纹理和几何维度保持在严格规范限值内gage能力测量系统提供高效反馈报告监测、跟踪和评价过程并评估GD&T一致性

MEMS传感器

高通量、高可重复取深度、薄膜厚度、平面粗度测量以及MEMS和光学MEMS高级临界维度解析光学剖面分析可在整个制造过程从rafer到最后测试,甚至通过透明打包描述设备特征

Orthopedics/Ophthalmics

在整个产品生命周期内对植入物和组件获取精确可重复测量WLI光学剖面器支持研发、QA和QC分析应用范围从镜面参数定性和注入模子到表面完成验证和穿戴医疗设备

语法学

测量、分析和控制摩擦、穿戴、润滑化和腐蚀对物/构件性能和寿命的影响确定量化损耗参数并快速检查光滑或粗糙表面

半导体

提高产量并降低前端和后端制造过程的成本,并配有自动化非接触瓦法尺度计量系统执行后CMP死板检验碰撞高度协同性缺陷识别分析并测量构件结构的关键维度

光学

更好地了解缺陷的根源并优化打磨和整理过程并用精确和可重复子膜粗糙度测量非接触度量系统使从小型光学和自由式光学样本到复杂几何光学组件到折射格和微粒样本都能够遵守日益严格的规格和ISO规范

资源类

观察3D光学实用性Webinar

网络研讨会覆盖最佳做法,介绍新产品,快速解答棘手问题,为新应用、模式或技术提供思想

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利用白光插图测量表面粗糙性的好处

万博在线客服由Bruker光学和三文理学应用高级主管塞缪尔·莱斯科编写商业微制造国际06/21

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