弹性计和反射计
多模式薄膜计量工具与复杂测量要求应用中不匹配性能
弹性非接触度量系统特殊电影分析
万博在线客服Bruker广度FilpTekTM产品线比可比工具对更多胶片类型和厚度进行更精确和可重复测量专有和专利等分光测量技术反射分光谱测量技术设计高效推接通操作,这些工具使用户快速、精确和非损性测量
电影厚度
折射索引
结构临界维度并
全面厚度变异子串
单层和多层薄膜大数组兼容,层厚度从超深到极厚(最高达350微米),包括金属、半导体、无态晶体和介质等联系我们万博在线客服与Bruker应用专家讨论你独特的测量需求
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在世界顶层开发实验室和工业生产楼层安装系统后,这些计量工具高精度和折射指数解析多层膜应用,这些应用与其他计量系统不可行,适合从学术研发到受控环境中高容量制造等环境使用
为支持最广范围应用、样本和环境,FilpTek系统提供各种标准定制配置范围从人工机台工具到完全自动化生产线准备模型,并包括单技术多式系统,将核心技术与更多技术整合
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非接触光谱反射法、光谱反射法和多角反射法对电影完全形态学和光学定性最理想
FilpTek工具使用这些技术提供行业引导结果,使用户能快速、准确和非损度范围广单层和多层薄膜,层厚度从<1+
