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万博在线客服布鲁克DektakQQStylus剖析器是五十多年专有技术进步的顶峰从传统步高度测量2D粗度表面特征分析到高级3D映射和膜压力分析提供可重复性、可靠性和精确度量分析Dektak表面剖面器已被广泛接受为从学术研究到半导体进程控制等各种应用领域测量薄膜厚度、压力、表面粗糙度和形式金质标准

五十余年分析创新

Dektak牌称第一个薄膜测量剖面程序、第一个微处理器剖面程序、第一个三维能力剖面程序、第一个PC基剖面程序以及第一个自动300毫米剖面程序DektakXT继续创用创用词“先发制人 ”, 成为首个单态设计程序, 首个集成简单可靠交换机制, 首个集成64位并行处理架构实现最优测量操作效率

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