为了通过高分辨率2D/3D元素分析来最大限度地控制高质量产品的过程,Bruker的微点x射线荧光(micro-spot X-ray fluorescence, Micro-XRF)桌面仪器和电子显微镜分析仪为空万博在线客服间分辨的成分、层厚度和晶体分析解决方案提供了非破坏性的方法和工具。
的M1米斯特拉尔和M4龙卷风和M4龙卷风+Micro-XRF仪器为那些常规的和特殊的QA/QC任务提供成分和涂层厚度分析。当需要进行失效分析时,M4 TORNADO还能够执行空间解析元素或层厚分布图,以查看成分的变化。
扫描和透射电子显微镜(SEM和TEM)为使用Bruker QUANTAX系统进行能量色散光谱分析(万博在线客服EDS)用于最高空间分辨率的无机材料分析。使用XSense波长色散谱仪由于具有良好的能量分辨率,可以更好地测定低能或轻元素范围内的具有挑战性的材料。使用基于SEM的QUANTAX EBSD(电子背散射衍射)系统,可以获得晶体取向图,以了解晶体学和相界,并研究材料的形变。最后,M4龙卷风+以及XTrace结合微xrf和EDS在SEM上的分析,提供了微xrf对微量元素的高灵敏度和EDS的轻元素性能。